susceptibility threshold of measurement device

Характеристика средства измерений в виде наименьшего значения измеряемой величины, начиная с которого может осуществляться ее измерение данным средством измерений

Ўлчанаётган катталикнинг энг кам қиймати кўринишидаги ўлчаш воситаси характеристикаси, шу қийматдан бошлаб берилган ўлчаш воситаси билан катталикни ўлчаш амалга оширилиши мумкин