atomic force microscope

Прибор для изучения поверхности твердых тел, основанный на сканировании острием (иглой) кантилевера (зонда) поверхности и одновременном измерении атомно-силового взаимодействия между острием и образцом. Здесь под взаимодействием понимается притяжение или отталкивание кантилевера от  поверхности из-за сил Ван-дер-Ваальса. Регистрация малых изгибов кантилевера осуществляется оптическим методом. В основном используются два режима измерений − контактный и колебательный. Атомно-сило-вой микроскоп применяется для снятия профиля поверхности и для изменения её рельефа, а также для манипулирования микроскопическими объектами на поверхности. Возможно исследование как проводящих, так и непроводящих поверхностей, в том числе и через слой жидкости. Разрешение достигает атомарного по горизонтали и существенно превышает его по вертикали. Изобретён в 1986 году Г.Биннигом и К.Гербером в США

Qattiq jismlar sirtini o‘rganish uchun mo‘ljal-langan, kantilevar (zond) uchi (ignasi) bilan skanerlashga hamda uch va namuna o‘rtasidagi atom-kuch o‘zaro ta’sirni bir vaqtda o‘lchashga asoslangan. Bu yerda o‘zaro ta’sir deganda, kantilevarning Van-der-Vaals kuchi tufayli sirtga tortilishi yoki itarilishi tushuniladi. Kantilevarning kichik burilishlari optik metod bilan qayd etiladi. O‘lchashlarning asosan ikki –  kontaktli va tebranish rejimidan foydalaniladi.Atom- kuch mikroskop sirt profilini olish va uning rel-yefini o‘zgartirish shuningdek, sirtda mikroskopik obyektlar bilan ishlash uchun qo‘llaniladi. Ham o‘tkazadigan, ham o‘tkazmaydigan sirtlarni o‘rganish mumkin, shu jumladan, suyuqlik qat-lami orqali. Ajrata olish gorizontal bo‘yicha atomar, vertikal bo‘yicha undan ancha oshadi. G.Binnig va K.Gerber tomonidan 1986-yilda AQShda ixtiro qilingan.

Қаттиқ жисмлар сиртини ўрганиш учун мўл-жалланган, кантилевар (зонд) учи (игнаси) билан сканерлашга ҳамда уч ва намуна ўртасидаги атом-куч ўзаро таъсирни бир вақтда ўлчашга асосланган. Бу ерда ўзаро таъсир деганда, кантилеварнинг Ван-дер-Ваальс кучи туфайли сиртга тортилиши ёки итарилиши тушунилади. Кантилеварнинг кичик бурилишлари оптик метод билан қайд этилади. Ўлчашларнинг асосан икки – контактли ва теб-раниш режимидан фойдаланилади. Атом-куч микроскоп сирт профилини олиш ва унинг рельефини ўзгартириш шунингдек, сиртда микроскопик объектлар билан ишлаш учун қўлланилади. Ҳам ўтказадиган, ҳам ўтказмайдиган сиртларни ўрганиш мумкин, шу жумладан, суюқлик қатлами орқали. Ажрата олиш горизонтал бўйича атомар, вертикал бўйича ундан анча ошади. Г.Бинниг ва К.Гербер томонидан 1986 йилда АҚШда ихтиро қилинган.