magnetic force microscopy

Эффективное средство магнитных исследований на субмикронном уровне. Изображения, получаемые с помощью магнитной силовой микроскопии отображают пространственное распределение некоторых параметров, характеризующих магнитное взаимодействие зонд − образец, т.е. силу взаимодействия, амплитуду колебаний магнитного зонда и пр. Датчик магнитной силовой микроскопии является обычным кремниевым (или нитридным) датчиком, покрытым тонкой магнитной пленкой. Магнитная силовая микроскопия измерения позволяет с высоким разрешением исследовать магнитную доменную структуру, проводить запись и считывание информации в магнитной среде, исследовать процессы перемагничивания и т.д.

Submikron darajadagi magnit tadqiqotlarning samarali vositasi. Magnit kuch mikroskopiya yordamida olinadigan tasvirlar, namuna − zond magnit o‘zaro ta’sirini, ya’ni magnit zond teb-ranishlar amplitudasini, o‘zaro ta’sir kuchini tavsiflaydigan ba’zi parametrlarning fazoviy taq-simlanishini aks ettiradi. Magnit  kuch mikros-kopiya datchigi, yupqa magnit plyonka bilan qoplangan, kremniyli (yoki nitridli) oddiy dat-chik hisoblanadi. Magnit kuch mikroskopiya o‘l-chashlar yuqori ajratish bilan magnit domen strukturani tadqiq qilish, magnit muhitda axborotni o‘qish va yozish, qayta magnitlash jarayonlarini o‘rganish imkonini beradi.

Субмикрон даражадаги магнит тадқиқотларнинг самарали воситаси. Магнит куч микроскопия ёрдамида олинадиган тасвирлар, намуна − зонд магнит ўзаро таъсирини, яъни магнит зонд тебранишлар амплитудасини, ўзаро таъсир кучини тавсифлайдиган баъзи параметрларнинг фазовий тақсимланишини акс эттиради. Магнит куч микроскопия датчиги, юпқа магнит плёнка билан қопланган, кремнийли (ёки нитридли) оддий датчик ҳисобла-нади. Магнит куч микроскопия ўлчашлар юқори ажратиш билан магнит домен структурани тадқиқ қилиш, магнит муҳитда ахборотни ўқиш ва ёзиш, қайта магнитлаш жараёнларини ўрганиш имконини беради.