small-angle x-ray scattering

Метод исследования вещества, в частности метод измерения размеров наночастиц, основанный на регистрации дифрактограмм излучения, рассеянных исследуемым объектом под малыми углами (от нескольких угловых секунд до долей градуса).

Moddani tadqiq qilish metodi, xususan, nanozarralar o‘lchamlarini o‘lchashning, tadqiq qilinadigan obyekt kichik (bir qancha burchak sekunddan gradus ulushigacha) burchaklar ostida tarqalgan nurlanish difraktogrammalarini qayd etilishiga asoslangan metodi.

Моддани тадқиқ қилиш методи, хусусан, нанозарралар ўлчамларини ўлчашнинг, тад-қиқ қилинадиган объект кичик (бир қанча бурчак секунддан градус улушигача) бурчаклар остида тарқалган нурланиш дифрактограммаларини қайд этилишига асосланган методи.