Прибор, предназначенный для исследования свойств поверхностей материалов от микронного до атомарного уровня. В сканирующем зондовым микроскопе существует три способа исследования поверхностей: сканирующая туннельная микроскопия, сканирующая (атомно-) силовая микроскопия и сканирующая оптическая микроскопия ближнего поля.

scanning probe microscope

Mikrondan atomlar darajasigacha materiallar sirtlarining xossalarini o‘rganish uchun mo‘ljallangan asbob. Skanerlaydigan zondli mikroskopda sirtlarni o‘rganishning uchta usuli mavjud: skanerlaydigan tunnel mikroskopiya, skanerlaydigan (atom) kuch mikroskopiya va yaqin maydon skanerlaydigan optik mikroskopiyasi.

Микрондан атомлар даражасигача материаллар сиртларининг хоссаларини ўрганиш учун мўлжалланган асбоб. Сканерлайдиган зондли микроскопда сиртларни ўрганишнинг учта усули мавжуд: сканерлайдиган туннель микроскопия, сканерлайдиган (атом) куч микроскопия ва яқин майдон сканерлайдиган оптик микроскопияси.